PART 1 반도체(Semiconductor)

 

 

실험 1 다이오드의 특성

실험 1.1 다이오드의 순방향특성 실험

실험 1.2 다이오드의 역방향특성 실험

실험 1.3 다이오드의 극성 판별 및 누설 판별 실험

 

실험 2 정류회로

실험 2.1 반파 정류기

실험 2.2 저장 커패시터(커패시터 필터)

실험 2.3 음의 전원공급

실험 2.4 브릿지 정류기

실험 2.5 저장커패시터의 효과

 

실험 3 제너다이오드

실험 3.1 제너 다이오드의 특성

실험 3.2 기울기 저항

실험 3.3 제너 다이오드 안정전류

실험 3.4 부하전류의 변화

 

실험 4 트랜지스터의 특성

실험 4.1 전달특성 및 전류이득

실험 4.2 출력특성

실험 4.3 트랜지스터 검사

 

실험 5 공통에미터(CE) 증폭기와 바이어스 안정성

실험 5.1 전압 증폭

실험 5.2 바이어스의 필요성

실험 5.3 구간이득과 입력임피던스

실험 5.4 콜렉터 귀환 안정성

실험 5.5 베이스 전위분할 안정화 증폭기

실험 5.6 에미터 재결합 커패시터

 

실험 6 그 외의 증폭기들

실험 6.1 에미터폴로워 (공통콜렉터(CC)증폭기)

실험 6.2 PNP 공통에미터 증폭기

 

실험 7  2단 증폭기

실험 7.1 2단 증폭기

실험 7.2 2단 증폭기의 주파수응답

 

실험 8 스위치로서의 트랜지스터

실험 8.1 간단한 스위치

실험 8.2 재생 스위치

 

 

 

PART 2 전력용 반도체소자(Power Electronics Device)

 

실험 1 전력용 트랜지스터

실험 1.1 램프제어

실험 1.2 트랜지스터의 전력손실

 

실험 2 듀티 사이클 제어기

실험 2.1 스위치 모드 제어

실험 2.2 듀티 사이클/부하전력

 

실험 3 전류 부스터

실험 3.1 전류 부스터-직류구동

실험 3.2 전류 부스터-교류구동

 

실험 4 오디오 전력증폭기

실험 4.1 오디오 증폭기-파형

실험 4.2 오디오 증폭기-출력전력

 

실험 5 전력용 MOSFET

실험 5.1 MOSFET의 특성

실험 5.2 FET와 BJT의 비교

 

실험 6 실리콘 제어 정류기

실험 6.1 사이리스터-직류동작

실험 6.2 정류자 사이리스터

실험 6.3 사이리스터-교류전원

 

실험 7 단일접합 트랜지스터

실험 7.1 단일접합 트랜지스터(UJT(Unijuction Transistor)

실험 7.2 사이리스터의 점호각 제어

 

실험 8 트리거 격리

실험 8.1 펄스 변압기

실험 8.2 광 결합기

 

실험 9 트라이액

실험 9.1 트라이액

실험 9.2 램프 조광장치

 

 

PART 3 연산증폭기

 

실험 1 비반전 증폭기

실험 1.1 직류전압 입력과 오프셋 널 제어

실험 1.2 교류신호 입력

실험 1.3 전압폴로워

 

실험 2 반전 증폭기

실험 2.1 폐루프 증폭기

실험 2.2 단위이득 반전증폭기

실험 2.3 이득의 변화

실험 2.4 이득과 포화

실험 2.5 사인과 입력 반전증폭기

실험 2.6 반전증폭기 이득과 대역폭

 

실험 3 가산증폭기

실험 3.1 가산

실험 3.2 스케일링

실험 3.3 가중치

 

실험 4 차동증폭기

실험 4.1 반전 모드

실험 4.2 비반전 모드

실험 4.3 차동 모드

 

 

실험 5 적분기

실험 5.1 직류 입력

실험 5.2 방형파 압력

 

실험 6 비교기회로

실험 6.1 전달 특성

실험 6.2 영교차 검파기

실험 6.3 비교기

실험 6.4 기준 비교기

 

실험 7 파형변환회로

실험 7.1 슈미트 트리거

실험 7.2 교류 입력 슈미트 트리거

실험 7.3 삼각파 기준 입력

 

교재문의 : info@yes01.co.kr